AIT stellt ici:microscopy zur simultanen 2D & 3D inline Qualitätsinspektion auf der Control vor (6. bis 9. Mai, Stuttgart)
Auch dieses Jahr ist die Forschungsgruppe High-Performance Vision Systems/ AIT Center for Vision, Automation & Control auf der Messe Control – der Internationalen Fachmesse für Qualitätssicherung in Stuttgart – dabei. Als Teil der Sonderschau »Berührungslose Messtechnik« des Fraunhofer-Geschäftsbereich Vision bei der Messe Control zeigen die Forscher:innen des AIT ihren neuen Lösungsansatz ici:microscopy zur simultanen 2D und 3D Inspektion von Oberflächenstrukturen. Mit seiner patentierten Mikroskop-Optik ermöglicht das Mikroskop, Material- und Produktionsfehler im µm Bereich sichtbar zu machen. Seine Anwendungen sind vielseitig so z.B. in der Elektronikfertigung, Halbleiterproduktion, im Sicherheitsdruck u.v.m.
Das Mikroskop ici:microscopy wurde 2023 mit dem inVISION Award und 2024 als eine der Top 5 Innovationen der Messe VISION ausgezeichnet. Für mehr Informationen kontaktieren Sie bitte Iman Kulitz/VAC iman.kulitz(at)ait.ac.at
Control 2025
6. bis 9. Mai 2025
Messe Stuttgart
Halle 7, Stand 7401
