EOS (Electrical Overstress) steht in vielen Fällen am Ende von Ausfallanalyseberichten, ohne dass sich daraus ein Rückschluss über die tatsächliche Ausfallursache ableiten lässt. Ein Seminar unseres Netzwerk-Mitglieds RoodMicrotec beleuchtet das Dickicht der Ausfälle mit einer EOS-Fehlersignatur und zeigt die Vielfalt der tatsächlichen Ursachen für EOS auf. Bei deren Ermittlung stößt die klassische Fehleranalyse auf Bauelemente-Ebene an ihre Grenzen und wird durch die Fehleranamnese, die auf der Systemebene ansetzt, sinnvoll ergänzt und erweitert.
Ort: Siemens AG, Weissacher Str. 11, 70499 Stuttgart
Zeit: Donnerstag, 10. Oktober 2019, 9:00 - 17:00 Uhr
Anmeldeschluss: 30. September 2019
Zielgruppe: Ausfallanalytiker auf allen Ebenen der modernen Elektronik, Elektronikentwickler und Testingenieure
Mitglieder des Sensorik-Netzwerks erhalten € 50,00 Ermäßigung (bei Anmeldung bitte angeben).
Details zur Anmeldung und zum Programm
