09.12.2010 Fraunhofer-Seminar mit Praktikum

Thema: Inspektion und Charakterisierung von Oberflächen mit Bildverarbeitung

Bildverarbeitungssysteme unterstützen die Qualitätssicherung und sind heute aus der Fertigung nicht mehr wegzu denken. Hohe Prüfgeschwindigkeit verbindet sich mit objektivierbarer und gleichbleibender Zuverlässigkeit, die mit anderen Methoden der Qualitätskontrolle kaum zu erreichen ist.

Die Inspektion von Oberflächen ist ein klassisches Arbeitsgebiet der industriellen Bildverarbeitung und seit vielen Jahren in mannigfachen Anwendungen bewährt. Die Fortschritte der Technik ermöglichen nicht nur ständig höhere Prüfgeschwindigkeiten und kompaktere Bauweisen, sondern auch die Erfassung zusätzlicher Oberflächeneigenschaften. So können nicht nur zweidimensional aufgenommene Texturen ausgewertet werden, die neuen Verfahren ermöglichen auch die dreidimensionale Vermessung der Oberflächentopologie im Nanometerbereich. Darüber hinaus gelingt die schnelle Bewertung farbiger, gemus­terter, transparenter oder stark reflektierender Oberflächen.

Nach wie vor ist ein Bildverarbeitungssystem für die meisten Anwendungen kein Produkt von der Stange, sondern verlangt anwendungsspezifische Anpassung. Das Seminar will den Teilnehmern daher einen Einblick in den Stand der Technik im Bereich der Inspektion und Charakterisierung von Oberflächen vermitteln. Die Teilnehmer sollen Möglichkeiten und derzeitige Grenzen der automatischen Oberflächenprüfung kennen lernen, um hieraus Leitlinien für die eigene Investitionsplanung ableiten zu können.

Das zweitägige Seminar vermittelt den Teilnehmern neben theoretischen Grundlagen auch anhand vorgestellter Beispiellösungen eine realistische Vorstellung bezüglich der Anwendungsmöglichkeiten optischer Mess- und Prüftechnik. Im anschließenden Praxisteil werden Übungen in kleinen Gruppen an unterschiedlichen Messmaschinen durchgeführt. Im Hinblick auf die Bewältigung eigener Messaufgaben können auch mitgebrachte Proben untersucht werden. Die Teilnehmer sollen nach dem Seminar zu einer eigenen Beurteilung der Leistungsfähigkeit der neuen Technologien in der Lage sein.

>> Seminarflyer

>> Anmeldeformular

>> Webseite des Veranstalters mit näheren Informationen

Termin:	Donnerstag, 9. Dezember 2010, 9:00 - 18:00 Uhr Freitag, 10. Dezember 2010, 9:00 - 15:00 Uhr
Veranstaltungsort:	Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB, Fraunhofer Straße 1, 76131 Karlsruhe
Ansprechpartner:	Regina Fischer, M.A. Fraunhofer-Allianz Vision Am Wolfsmantel 33 91058 Erlangen Tel. +49 9131 776-5830 Fax +49 9131 776-5899 vision@fraunhofer.de
Teilnahmegebühr:	980,00 €

 

 

 

 

 

 

 

 

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